【成果简介】

微波半导体器件多参数测试仪适用于集成电路设计验证与量产测试应用场景，软硬件平台采用开放体系架构，通过对射频、数字、模拟和源测量类测试资源的组合重构，可满足不同通道规模与指标水平的功放、低噪放、开关、模组类射频集成电路及DC/DC、ADC、DAC类数模混合集成电路高速测试需求。该产品具有S参数、频谱参数、功率参数、时间参数、伏安参数、协议参数测试、多站并行测试、多型分选机适配、STDF标准数据收集等功能，整体上具有通道密度大、性能指标优异、测试效能高、数据产出规范等特点，技术就绪度达到8级，在性能上能够替代进口设备，为国内主要集成电路生产测试厂家提供测试支撑。

【主要指标】

（一）输入/输出信号频率范围：100MHz-18GHz

（二）射频信号通道数：16路

（三）数字最大数据速率 ：800Mbps

（四）数字信号通道数：512路

【应用推广需求】

（一）应用推广方式：销售

（二）应用推广领域：集成电路设计及封装测试厂家。

【成果图片】

 

 

【联系人】

集团联系人：宛少卓，13910861102，m13910861102@163.com

成果联系人：汪定华，18505528366，wdingh2008@163.com

 

【责任编辑：梁咏诗】