一、成果简介

本产品中汽研科技有限公司开发，集成了8项专利成果。该系统基于芯片多维故障注入、复杂干扰模拟等关键测试技术，能够开展车规级芯片算法安全测试、随机数测试、芯片安全性能测试、侧信道测试、故障注入测试等检测内容，对全场景下芯片基础安全功能、安全验证功能、抗攻击能力、安全管理能力进行综合评价。该系统能够实现5类典型故障注入模型和8类故障叠加模型，支持汽车芯片信息安全测试用例196条，覆盖10大芯片品类和5种汽车应用场景。

二、主要指标

（一）车规芯片典型干扰模型支持种类：支持5类芯片干扰模型：电压毛刺、电压抖动、脉冲干扰、电磁辐射、温度干扰；

（二）车规芯片复杂环境干扰叠加模型支持种类：支持8类芯片复杂干扰模型叠加分析（包括：温度与电压毛刺、温度与电压抖动、电磁与电压抖动等）；

（三）信息安全芯片测试用例数量：形成涵盖SM4、SM2算法的侧信道及故障注入分析用例196条；

（四）随机数分析模块显著性水平可调范围：测试系统可测试随机数的显著性水平范围覆盖0.02～0.05。

三、联系方式

翟瑞卿，18322593735，zhairuiqing@catarc.ac.cn

【责任编辑：刘祉妤】